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제품정보

플라잉 ICT

플라잉 프로브 테스터 FA1240, FA1241

실장기판검사 JIG 불필요 In-Circuit Tester(ICT)

  • 조작은 Work Flow에 따라서 진행. 부품 높이도 고려한 프로그램이 단시간에 완성
  • Arm 간섭 자동 연산 (UA178과의 병용)
  • Shot 수십배의 고내마모 프로브도 Line-Up, 전용공구 없이 교환 가능
  • 전기부품의 사접촉검출, 공정 검출율 향상을 실헌
  • 복수부품의 분리검사와 Guarding
  • 부품에 무리가 없도록 0.2V 이하 전압으로 측정
FA1240-51 대형기판 대응
FA1240-52 감정평가기관의 조사를 받아야하므로 복잡하고 비용이 많이 발생함
FA1240-53 M 랙 기판 대응
FA1241-51 CE대응, 대형기판 대응
FA1241-52 CE대응, 대형기판 대응

대응기종 : FA1241-51, FA1241-52

「연결되는 힘」 ATE 제품 소개

HIOKI 기판검사장치의 「연결되는 힘」은 전기검사에서 미래로 연결 되어 가는 힘. 고객과 함께 이와 같은 풍요로운 생활을 지탱해 가는 것이 검사장치에서 할 수 있는 작은 가능성 입니다. 그리고, 전기검사장치의 생명이라 할수 있는 「접촉 성능」 이라는 기판과 연결되는 힘의 향상을 나날이 추구하고 연구를 지속하는 것이, HIOKI 기판검사장치의 목표 이고 걸어온 길 입니다.

데이터작성시간 1/10, 라인 정지시간 1/15

UA1780 S/W(Option)와 같이 사용하는 것으로 재작업이 작고, 단시간에 고품질의 검사 프로그램을 작성 할수 있습니다. 「플라잉 프로브 테스터는 데이터를 작성하는 것이 큰일」 라고 생각하는 분 이야 말로, 최신의 데이터 작성 시스템을 벤치마킹으로 체험해 보십시오.

거버 데이터에 주목한 검사 포인트 지상주의

간단히 데이터 작성이 가능 ≠ 간단히 검사가 가능 이라는 것은 반은 진실이고, 반은 거짓 입니다. 디스크리트(개별반도체)시대라면 같다고 해도 무방하지만, FA1240이 추구하는 검사 데이터 작성은 「간단히-정확한-검사데이터를 작성 할수 있는 것입니다. 검사기가 움직이는 데이터와, 출하 할수 있는 검사 데이터의 차이를 최소화 함으로서(디버깅 등에 의함) 생산라인의 정지시간을 최소한으로 억제하여, 안심하고 제품을 출하 하는것이 가능해 집니다. 「출하 할수 있는 검사데이터를 신속히 만듬」에 주목하면 거버 데이터+마운팅 데이터가 됩니다.

Work Flow 채택으로 간단한 Interface

Work Flow에 따라 진행하면 검사데이터가 완성되는 One-route System

부품에 간섭되지 않는 자동 프로빙

프로브 끝단을 쳐다보고「접촉됨?、접촉 안됨?」의 확인 작업을 하고 있지는 않습니까? 사실은 프로브의 선택은 디버깅 중에도, 부하가 높은 주의해야 하는 항목 입니다. 마운팅 데에터에 부품 높이 정보를 추가 함으로서, 검사 프로브를 자동으로 선택. 안심하고 전기검사 디버깅을 전념할수 있습니다.

핀 들뜸 과 의사접촉은 다릅니다.

기판제조공정의 각종검사를 거치지 않고 시장에 출하하는 가능성이 높은 불량이 핀 의사접촉 불량 입니다. 핀 「들뜸」은 현재의 화상검사기술이 있으면, 거의 확실하게 감지가 가능하도록 되어 있습니다. 그러므로 외관으로는 발견하기 어려운 의사접촉 상태를 검출하는 것이, HIOKI 독자 저항측정방식 의사접촉 검사 입니다.

초강 프로브는 시간과 비용, 기판 데미지 까지 감소시킴

신형 초강프로브에 의해, 300만회의 접촉에도 끝단부 마모 없음

「만들고, 측정하고, 보는」실장기판전기검사시스템

고객의 기판을 사용하여 최신 검사시스템을 꼭 체감해 주십시오. 「만들고」검사데이터작성시스템 UA1780 「측정하고」 플라잉 프로브 테스터 FA1240 「보고 」FAIL VIEWER UA1782 실장기판 검사는 정확한 데이터를 작성하여, 정확히 계측하고, 정확히 불량위치를 찾아내는 것이 중요 합니다.

개략 사양
  FA1240-51
FA1241-51
FA1240-52
FA1241-52
FA1240-53
ARM 수 4 ARM (L, ML, MR, R)
검사 스텝 수 40,000 스템(최대)
측정범위 저항 : 400μΩ~40MΩ
콘덴서 : 1pF~400mF
인덕턴스 : 1μH~100H
다이오드 VZ 측정 : 0~25V
제너 다이오드 VZ 측정 : 0~25V, 25~80V (옵션)
디지털 트랜지스터 : 0~25V
포토 커플러 : 0~25V
쇼트 : 0.4Ω~400kΩ
오픈 : 4Ω~40MΩ
직류전압측정 : 0~25V
Function 기능용 전압측정 : ±40V (옵션)
릴레이 ON 저항 측정 : 40m~40Ω (옵션)
FET ON 저항측정 : 400m~400Ω (옵션)
간이 Function 측정:±25V (옵션)
측정 스피드 0.025s/step- 0.033s/step- 0.025s/step-
프로빙 정확도 각 ARM±100 μm 이내 (X-Y 각 방향)
이동 반복 정확도 ±50 μm 이내 (프로빙 위치)
최소 프로빙 피치 0.2 mm
(4단자 프로브 시 0.5 mm)
0.2 mm
(4단자 프로브 시 0.5 mm) (ML-MR 간 7.5 mm)
0.2 mm
(4단자 프로브 시 0.5 mm)
검사 가능 사이즈 510W × 460D mm 510W × 460D mm 400W × 330D mm
전원 AC200 V (단상) 50/60 Hz, 6 kVA
(FA1241는 AC230 V)
AC200 V (단상) 50/60 Hz, 6 kVA
(FA1241는 AC230 V)
AC200 V (단상) 50/60 Hz, 5 kVA
크기/무게 1406W × 1300H × 1380D mm,
1150 kg
1406W × 1300H × 1380D mm,
1150 kg
1266W × 1369H × 1425D mm,
1050 kg
개략 사양
형명 (발주코드) 설명 가격 HiokDirect
FA1240-51 대형 기판 대응    
FA1240-52 대형 기판 대응    
FA1240-53 M 랙 기판대응    
FA1240-51 CE대응, 대형기판 대응    
FA1240-52 CE대응, 대형기판 대응    
이 제품의 옵션

옵션
데이터 작성 S/W

- FIT 라인 검사 데이터 시스템 UA1780

준비중 입니다.